Pletronics公司致力于不斷提高產(chǎn)品產(chǎn)量,降低成本,提高客戶滿意度,滿足員工對培訓(xùn)、安全和士氣的期望。如今已成為行業(yè)中晶體和有源晶振的最佳供應(yīng)商。” 今天就像Pletronics成立于1979年一樣。我們的目標(biāo)是卓越的品質(zhì)和優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。2010年-低功耗的OeXO系列產(chǎn)品,TCVCXO的替代品,許多OCXO應(yīng)用擴(kuò)展生產(chǎn)和TCVCXOs的測試能力,2011年開發(fā)的LC振蕩器技術(shù)振蕩器。
Pletronics晶振集團(tuán)將建立可行的技術(shù)及經(jīng)濟(jì)性環(huán)境目標(biāo),并確保其環(huán)境保護(hù)活動的質(zhì)量.
集團(tuán)公司將關(guān)注所有環(huán)境適用的法律、法規(guī)和協(xié)議的遵守情況.另外為更有效的進(jìn)行環(huán)境保護(hù),將建立自己的特有的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn).推進(jìn)環(huán)保型業(yè)務(wù),充分發(fā)揮壓電石英晶體、有源晶體、晶體振蕩器, 溫補(bǔ)晶振,石英晶體振蕩器等器件的綜合實(shí)力,推進(jìn)環(huán)保型業(yè)務(wù),為減輕社會的環(huán)境負(fù)荷做出貢獻(xiàn).
Pletronics晶振,石英晶體振蕩器,HC77D晶振.7.0*5.0mm時鐘晶體振蕩器,進(jìn)口石英晶體振蕩器基本解決方案,HCSL輸出,輸出頻率13MHz到220MHz之間,出色的低相位噪聲和抖動,三態(tài)功能,應(yīng)用:SDH/SONET,以太網(wǎng),基站,筆記本晶振應(yīng)用,符合RoHS/無鉛要求。
Pletronics晶振與其它電子元件相似,石英晶體振蕩器亦采用愈來愈小型的封裝。通常,較小型的器件比較大型的表面貼裝或穿孔封裝器件更昂貴。所以,小型封裝的石英晶振往往要在性能、輸出選擇和頻率選擇之間作出折衷。隨著時間的推移,頻率值隨著晶振變化的大小,有年老化和日老化兩種指標(biāo)。
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Pletronics晶振 |
標(biāo)示 |
HC77D晶振 |
晶振基本信息對照表 |
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標(biāo)準(zhǔn)范圍 |
f0 |
13.000MHz~220.000MHz |
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電源電圧 |
Vcc |
+2.5V |
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輸出電流 |
Icc |
3.5 mA max. |
Vcc=2.5V |
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頻率負(fù)載 |
L_CMOS |
15pF |
HCSL出力 |
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標(biāo)準(zhǔn)頻率偏差 |
f_tol |
±20、±25、±50×10-6 max.
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初期偏差、 |
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輸出電壓 |
V |
VOH:Vcc×90% min.VOL:Vcc×10% max. |
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對稱 |
SYM |
40%~60% |
50% Vcc |
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標(biāo)準(zhǔn)時間 |
tr/tf |
12 ns max.(1.8~80MHz) |
10%Vcc~90%、L_CMOS=15pF |
噪音
在電源或輸入端上施加執(zhí)行級別(過高)的不相干(外部的)噪音,可能導(dǎo)致會引發(fā)功能失常或擊穿的閉門或雜散現(xiàn)象。
電源線路
電源的線路阻抗應(yīng)盡可能低。
輸出負(fù)載
建議將輸出負(fù)載安裝在盡可能靠近貼片型有源晶振的地方(在20 mm范圍之間)。
未用輸入終端的處理
未用針腳可能會引起噪聲響應(yīng),從而導(dǎo)致非正常工作。同時,當(dāng)P通道和N通道都處于打開時,電源功率消耗也會增加;因此,請將未用輸入終端連接到VCC 或GND。
熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會降低受損害的高性能SMD晶體振蕩器的產(chǎn)品特性,并導(dǎo)致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。Pletronics晶振,石英晶體振蕩器,HC77D晶振
安裝方向
進(jìn)口晶體振蕩器的不正確安裝會導(dǎo)致故障以及崩潰,因此安裝時,請檢查安裝方向是否正確。
通電
不建議從中間電位和/或極快速通電,否則會導(dǎo)致7050m六腳有源晶振無法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。
輸出波形與測試電路
1.時序表
2.測試條件
(1)電源電壓
超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達(dá)到 90 % 。
電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。Pletronics晶振,石英晶體振蕩器,HC77D晶振
(2)其他
輸入電容低于 15 pF
5倍頻率范圍或更多測量頻率。
鉛探頭應(yīng)盡可能短。
測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過振蕩器的放大器時,可同時進(jìn)行測量。
(3)其他
CL包含探頭電容。
應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
使用微型插槽,以觀察波形。
(請勿使用該探頭的長接地線。)
3.測試電路




IDT晶振,XO晶振,8N4Q001晶振
IDT晶振,OSC振蕩器,XL晶振
Pletronics晶振,7050石英晶振,LV77D晶振
MX575ABC25M0000,Microchip微芯晶振,7050陶瓷貼片晶振